System-on-Chip Test Architectures

Hae kokoteksti

E-kirja

Laung-Terng Wang ; Stroud, Charles E. ; Touba, Nur A. ; Wang, Laung-Terng ; Charles E. Stroud ; Nur A. Touba ; Nur Touba ; Stroud,Char ; Touba, Nur

Morgan Kaufmann 2008

Tallennettuna:

Kieli

englanti

Julkaisija

Morgan Kaufmann, 2008

ISBN

0-12-373973-X
9786611100049
1-281-10004-8
0-08-055680-9

Tämän aineiston tarjoaa