System-on-Chip Test Architectures
Finna-arvio
System-on-Chip Test Architectures
Tallennettuna:
Kieli |
englanti |
---|---|
Julkaisija |
Morgan Kaufmann,
2008
|
ISBN |
0-12-373973-X 9786611100049 1-281-10004-8 0-08-055680-9 |
Hae kokoteksti |